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電子デバイス・実装技術セミナーのご案内
電子デバイス・実装技術セミナー （福島県組込み関連産業研究会、福島県航空・宇宙産業技術研究会 合同セミナー）信頼性評価技術の最新動向
～ 高加速寿命試験（ＨＡＬＴ ）とバウンダリ スキャンテスト技術の紹介 ～
近年、電子デバイスの微小化が進み、製造・品質管理はますます困難になっています。 そこで、「信頼性評価技術」をテーマとするセミナーを、下記により開催いたします。奮ってご参加ください。
記
１ 日 時 平成２６年１２月３日（水） １３：００～１６：００
２ 場 所 福島県ハイテクプラザ 多目的ホール （郡山市待池台１－１２）
３ 内容・講師
（１）演題： 「高加速寿命試験（ＨＡＬＴ）技術の最新動向」
講師： 株式会社東陽テクニカ ＨＡＬＴ技術センター 川上雅司 氏
（２）演題： 「ＪＴＡＧバウンダリ スキャンテスト技術の最新動向」
講師： アンドールシステムサポート株式会社 古長由行 氏
４ 受講料 無料
５ 申込方法 開催案内（pdf形式）に必要事項をご記入の上、FAXまたは各項目をe-mailで
下記あてお送りください。なお、e-mailのタイトルは「実装申込」として下さい。
６ 申込先 工業材料科 工藤 まで
FAX 024-959-1761
e-mail: kudo_hiroyuki_01@pref.fukushima.lg.jp
６ 申込締切 平成２６年１２月１日（月）
技術相談は、